介绍
平面波导延时线具有尺寸小、易集成等优势,不仅可以通过精确调制波导长度控制延时时间,而且能容易地制备出超长的波导线,在硅光子集成芯片系统中有着重要的应用。
ofdr测试仪器拥有高达10um的空间分辨率,可快速精准表征出硅光芯片内部情况,本文使用基于ofdr原理的高分辨率光学链路诊断仪(oci)对平面光波导延迟线进行测量,以亚毫米级别的分辨率诊断其内部光路插损、回损、距离等信息。
二
平面波导测试
图1为在石英衬底上集成的平面波导延迟线内部光路示意图。
图1.平面波导延迟线内部光路示意图
图2为平面波导延迟线内部光路测试结果,通过图中回波损耗曲线峰值可以看出首尾耦合位置,两者之间长度为波导长度(3.073m),斜坡下降的幅值代表整个波导产生的损耗,约为3.3db/m。平面波导的回波曲线呈周期性是由螺旋型光路导致,中间两个突起峰是由于光路中心有较大的弯曲损耗。
图2.平面波导延迟线内部光路测试结果
三
结论
平面波导延迟线的波导长度、波导损耗和耦合位置回损决定其品质好坏,oci设备能够以亚毫米级别的分辨率扫描芯片光链路,得出各个点的回波损耗表征出整个光路信息,这些光学参数精准测试为硅光芯片科研人员提供解决思路。
来源:通信百科
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