基于FPGA器件的DAC芯片参数回路测试方法分析

d/a 转换器作为连接数字系统与模拟系统的桥梁,不仅要求快速、灵敏,而且线性误差、信噪比和增益误差等也要满足系统的要求[1]。因此,研究dac 芯片的测试方法,对高速、高分辨率dac 芯片的研发具有十分重要的意义。
目前,波形测量和分析协会已提出了dac 测试的技术标准ieee std.1057,里面的术语和测试方法为dac 测试提供了更多的参考。传统的标准测试只适于信号发生器、示波器等测试仪器,但是测试精度不高;大规模芯片测试时则使用自动测试设备(ate),但是成本很高;最近提出的dac 的测试方法,比如结合v777 数字测试系统可以进行dac 测试,应用模拟滤波器进行音频dac 测试,利用数模混合信号测试系统quartet 对高速dac 进行测试,等等[5],这些方法在通用性、精确度和成本方面无法同时满足。为了达到上述要求,提出了基于fpga 的高性能dac 芯片回路测试法。
1 dac 主要技术参数
dac 的主要技术参数基本上可以分为静态特性参数和动态特性参数。dac 的静态特性参数用来确定其转换的精确度,主要包括失调误差(offset error)、增益误差(gain error)、积分非线性误差(inl)以及微分非线性误差(dnl)等。dac动态特性参数用来确定其交流条件下的性能,主要包括信噪比(snr)、信号噪声和失真比(sinad)、有效位数(enob)、总谐波失真(thd),以及无杂散动态范围(sfdr)等。
2 测试方案
2.1 设计原理
dac芯片参数回路测试法,就是将待测信号形成一个完整的信号回路。首先,使用fpga 产生待测信号,经过dac芯片后转换成模拟信号,再经过滤波、放大电路和adc 芯片转换成数字信号,存储在fpga 的ram 里,然后使用quartusii 软件signal tap ii 工具取出数据,导入matlab 软件后,就可以对数字信号进行分析和计算,从而得到dac 的技术参数[6]。在adc 采样之前使用模拟信号接收器,如示波器、频谱仪等,可与后端测试结果比较分析。设计原理如图1 所示。
由于fpga 使用非常灵活,通过配置不同的编程数据可以产生不同的电路功能,对于不同分辨率和采样速度的dac芯片都可以进行参数测试;滤波和运算放大电路尽可能地降低信号在转换和传递过程中的噪声;数字信号在分析和计算方面比模拟信号更加准确,保证了测试系统的精确度;相对于其他dac 测试系统来说,本测试方案使用的元器件比较少,成本比较低。
图1 设计原理
2.2 硬件实现
dac 使用12 位分辨率、250 ms/s 采样速度的dac 芯片,芯片采用lvds 差分电路、ptat 基准源以及4+4+4 电流源阵列等关键技术设计,可以满足高速高分辨率转换电路处理的要求。fpga 是altera 公司cyclone iii 系列ep3c25q240c8 芯片,功耗小,系统综合能力强,价格较低,包含了24*个逻辑单元、594 kbit 内存空间和4 个锁相环,硬件资源完全可以满足测试的要求[8] 。adc 是linear 公司的ltc2242-12 芯片,交流特性非常好,降低了测试系统带来的误差。运算放大器是adi 公司的ad8008 芯片,非常好的驱动特性保证了dac 芯片输出信号的质量,提高了dac 的驱动能力。
2.3 软件设计
软件代码采用硬件描述语言verilog实现。fpga产生待测信号包括test(全零、全一等)、ladder(阶梯波)和sin(正弦波)。其中test信号用于测试dac芯片的静态特性参数失调误差和增益误差,ladder信号用于测试dnl和inl,sin信号用于测试动态特性参数snr、sinad、enob、thd和sfdr。
数据分析和计算过程主要通过matlab 软件实现。dac 芯片输入全零和全一信号,可计算出失调误差和增益误差;使用阶梯波信号测试inl 和dnl 时,为了测试精确度,将12位输入数据分成高中低各四个位进行测试。dac 的动态特性参数测试采用快速傅里叶变换的方法,将signal tap ii 工具取出数据经过fft 和其他运算,得到snr、sinad、enob、thd 和sfdr 等动态特性参数,它们可以全面地反映dac 的动态特性,这里精确到14 阶谐波。
3 测试结果
test 信号测试:dac输入全一状态的输出电压为760 mv,输入全零状态的输出电压为276 uv,经过matlab 计算,失调误差是0.036%,增益误差是3.63%。
ladder 信号测试:在计算inl 和dnl 时,dac 输入高中低各四个位的测试原理相同,以中四位为例来介绍。n=12,i 从24~28 位变化,用1lsb 来表示,测定输出的15 次(step)阶梯波,转换成电压值,部分数据如表1 所示,每列数据分别表示阶数、测试最小值、测试最大值、测试平均值、理想数值以及考虑小电流影响后最终电压值。使用matlab 软件分析数据后得到inl 和dnl 曲线如图2 和图3 所示。
表1 15 次阶梯波电压值
图2 inl 分析曲线
图3 dnl 分析曲线
sin 信号测试:输入正弦波频率25 khz,ad 采样率为100 mhz/s,输出数字信号经过matlab 分析计算后,测得snr是58 db,sinad 是57.75 db,sfdr 是62.84 db,thd 是58.62 db,enob 是9.3 位。时域波形和fft 变换后14 阶谐波的频谱如图4 和图5 所示。
图4 sin 信号输出时域波形
图5 sin 信号输出频域波形
4 结语
以12 位、250 ms/s dac 芯片为例,在fpga 的基础上使用回路测试法,测试了其静态特性参数和动态特性参数。实验结果表明,可以有效地测试dac 芯片的静态特性参数和动态特性参数。同时可以测试不同分辨率和采样速度的dac 芯片,测试结果比普通模拟测试仪器的精度高,测试系统比专用dac 自动测试设备成本低。

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