NI推出两个新的射频信号调理模块
ni推出两个新的射频信号调理模块
美国国家仪器有限公司(national instruments，简称ni)近日宣布推出两个新的射频信号调理模块，能增强基于pxi的射频和微波测试系统的测量精确度和灵活性，从而使该公司自动化测试产品线进一步扩大。在诸如射频信号路径损耗建模，场强测量和接收器测试应用中，工程师们可将新的ni pxi - 5695的 8 ghz可编程射频衰减器与矢量信号发生器(vsg)相结合，以改善低功率水平下的射频信号质量。工程师们可以将ni pxi-5691 8 ghz 可编程射频前置放大器同vsg相结合，以提高最大功率，也可以与矢量信号分析仪(vsa)相结合以测量较小的信号。
“测试接受机灵敏度时，rf功率电平的精确控制是一个关键要求。”itron公司测试工程师jeff may说道(注：itron是一家智能计量领域的领先供应商，智能电网技术的先驱)，“ni新型可编程衰减器为我们提供了必须的高精确度，从而能精确控制pxi产品测试装置中的激励电平，这对于帮助我们保持测试过程中的效率和质量具有很大的益处。
pxi - 5695是一个50mhz至8ghz的双通道可编程射频衰减器，有一个固定衰减通道和一个可编程衰减通道。该模块提供了一个集成化的射频功率调整方式，在许多情况下可以代替射频产品测试中的开关衰减器网络。工程师可以整合 pxi-5695与射频信号发生器(如ni的 pxie - 5673 6.6 ghz矢量信号发生器)，从而更精确地控制信号功率。最大衰减量可达60分贝，典型的电压驻波比 (vswr) 为1.3:1。这种级别的控制大大增加了矢量信号发生器的动态范围，也是实现接收机灵敏度精确测量的关键。
pxi - 5691是一个50mhz至8ghz的双通道可编程射频放大器，可以实现前置放大器和功率放大器两种功能，具有超过20dbm的最大输出功率，可高达60 db的总增益，0.5db的增益分辨率，超过31dbm的三阶交调截取点(ip3)以及5db噪声系数，该放大器在与射频信号发生器或信号分析仪连接时可以充分实现测量上的灵活性及精确度。当与ni pxie-5663 6.6 ghz矢量信号分析仪配合使用时，新型放大器可以使工程师们等效实现-163 dbm的输入噪底。当与ni pxie – 5673矢量信号发生器一起使用时，可以在输出功率电平高达20dbm时产生瞬时带宽高达100mhz的信号。
“这些新型射频信号调理模块增强了pxi平台在射频应用中的性能”，ni公司测试产品市场部副总裁eric starkloff说道。“我们持续投资于研发新的pxi仪器，希望提供一系列商业可用的解决方案，以帮助工程师们构建下一代自动化测试系统，从而应对复杂挑战”。
作为ni pxi平台的一部分，新推出的衰减器和放大器针对ni labview图形化系统设计平台、ni labwindows™/cvi ansi c的软件开发环境以及c，c + +、.net编程进行了优化。此外，每个仪器驱动程序都包含labview范例代码，可以帮助工程师们利用图形化编程着手去迅速开发射频与微波测试系统。
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“测试接受机灵敏度时，rf功率电平的精确控制是一个关键要求。”itron公司测试工程师jeff may说道(注：itron是一家智能计量领域的领先供应商，智能电网技术的先驱)，“ni新型可编程衰减器为我们提供了必须的高精确度，从而能精确控制pxi产品测试装置中的激励电平，这对于帮助我们保持测试过程中的效率和质量具有很大的益处。
pxi - 5695是一个50mhz至8ghz的双通道可编程射频衰减器，有一个固定衰减通道和一个可编程衰减通道。该模块提供了一个集成化的射频功率调整方式，在许多情况下可以代替射频产品测试中的开关衰减器网络。工程师可以整合 pxi-5695与射频信号发生器(如ni的 pxie - 5673 6.6 ghz矢量信号发生器)，从而更精确地控制信号功率。最大衰减量可达60分贝，典型的电压驻波比 (vswr) 为1.3:1。这种级别的控制大大增加了矢量信号发生器的动态范围，也是实现接收机灵敏度精确测量的关键。
pxi - 5691是一个50mhz至8ghz的双通道可编程射频放大器，可以实现前置放大器和功率放大器两种功能，具有超过20dbm的最大输出功率，可高达60 db的总增益，0.5db的增益分辨率，超过31dbm的三阶交调截取点(ip3)以及5db噪声系数，该放大器在与射频信号发生器或信号分析仪连接时可以充分实现测量上的灵活性及精确度。当与ni pxie-5663 6.6 ghz矢量信号分析仪配合使用时，新型放大器可以使工程师们等效实现-163 dbm的输入噪底。当与ni pxie – 5673矢量信号发生器一起使用时，可以在输出功率电平高达20dbm时产生瞬时带宽高达100mhz的信号。
“这些新型射频信号调理模块增强了pxi平台在射频应用中的性能”，ni公司测试产品市场部副总裁eric starkloff说道。“我们持续投资于研发新的pxi仪器，希望提供一系列商业可用的解决方案，以帮助工程师们构建下一代自动化测试系统，从而应对复杂挑战”。
作为ni pxi平台的一部分，新推出的衰减器和放大器针对ni labview图形化系统设计平台、ni labwindows™/cvi ansi c的软件开发环境以及c，c + +、.net编程进行了优化。此外，每个仪器驱动程序都包含labview范例代码，可以帮助工程师们利用图形化编程着手去迅速开发射频与微波测试系统。
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