爱德万8Gbit/s数位模组支援SoC高速测试

爱德万测试(advantest)推出t2000 8gbit/s数位模组(8gdm),满足系统单晶片(soc)装置各式介面高速测试需求,包括序列式、并行式,以及记忆介面如pci-express与双倍资料传输率(ddr)连接等。该公司并将于今年12月5~7日,在日本千叶县幕张国际展览中心举办的semicon japan国际半导体展上展出t2000 8gdm。
爱德万soc测试事业体执行长暨执行副总裁toshiyuki okayasu表示,全新t2000 8gdm的密度更高、效能更强大,支援多重时域高速介面的复杂soc装置测试,并具备专为系统层次的功能性测试所设计的fta功能,可望扩大该公司的市场占有率。
多功能t2000 8gdm可支援各种soc介面测试,资料传输率高达8gbit/s,主要功能包括时脉资料回復(cdr)、抖动注入、输入/输出(i/o)死带消除、多重闪控操作等。此模组涵盖在t2000增强型性能解决方案(epp)中,具功能性测试抽象化功能,将进一步缩短週期时间并简化除错。
爱德万所研发的模组与测试机,不仅拥有高效能运作能力,更可提供高产能、多使用者环境及并列同测功能,达到降低测试成本、加速上市的目标,是半导体厂商面对全球布局挑战不可或缺的设备。

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