用自动测试方法来替代手工接线测试,对网分测试端口进行扩展
随着4g/5g移动通信技术的发展，对天线兼容多频段的要求越来越高，对于设计时需天线的驻波和插损进行测试，但多次使用网分进行拔插，不仅繁琐，而且容易多次拔插导致接触不好产生的性能变差，无法很好验证设计的正确性，此时需要有一个自动测试方法来替代手工接线测试，对网分测试端口进行扩展（2扩n），对接天线测试端口，但设计过程会遇到不同的问题，以下逐步分析
问题现象
在测试天线过程中发现其中一路通道驻波和插损异常大，驻波最大为3.1，差损为20db，经排查是由于pcb板上其中一路端口驻波和插损过大。
通过比较发现：-45端口输入，s11端口输出条件下测试驻波和差损正常，驻波最大为1.53，插损最大为-7db；+45端口输入，s22输出（如图1所示）。驻波最大为3.2，差损最大为20db。两电路结构相同，唯一不同是传输线长度不同，经分析是由于电路阻抗失配而导致驻波值大和插损值大，下一步想办法解决驻波和插损大问题。
图1 测试端口pcb图
图2 测试端口原理图
单端口解决方案
1.方案二：更改天线切换ic，但结合到我司天线目前的性能，只有hmc595e 符合要求（其实是可以使用pin二极管来代替的）
2.方案三: 修改设计电路，使得传输线匹配。方案三可行。
多端口测试
此测试目的是解决ic互相影响而导致驻波和插损变差的问题。
测试1：端口+45 in,端口s22 out，其他端口悬空；
电平：u27_a低，u27_b高，u28_a高，u27_b低；
测试2：端口+45 in,端口s22 out，其他端口悬空；
电平：u27_a高，u27_b低，u28_a高，u27_b低；
测试3：端口-45 in,端口s11 out，其他端口悬空；
电平：u27_a高，u27_b低，u28_a低，u27_b高；
测试4：端口+45 in,端口s11 out，其他端口悬空；
电平：u27_a低，u27_b高，u28_a高，u27_b低；
测试2的情况是测试u27对u28通路的驻波和插损影响，从理论分析，当u27_a电平高，u27_b电平低，u27_rf1引脚不通信号，u27_rf2引脚接通信号；当u28_a电平高，u29_b电平低； u28_rf1引脚不通信号，u28_rf2引脚接通信号，见图4引脚图和真值表。
图4 hmc595e引脚图和真值表
当信号从+45端口输入，经过u28，s22出，没有信号流经u27。但在测试过程中发现焊接上u27后对s22端口输入驻波影响不大，对s22端口输出驻波产生恶化，单独通路测试s22端口输出驻波最大为1.7，焊接上u27后s22端口输出驻波为2.1。如图5、图6所示。
图5 没焊接u27,+45输入s22输出的通路驻波和插损
图6 焊接u27,+45输入s22输出的通路驻波和插损
通过修改电路使得阻抗在传输过程中匹配，通过调试，最终电路如下：
图7 最终调试电路
图7中r10=5.1ω,r11=r12=810ω，实现50ω阻抗匹配。具体计算可以使用网络衰减计算软件，软件截图如下，也可以通过数学公式计算出来，详细请参考《射频功率衰减值原理.pdf》文章。
图8 网络衰减计算软件界面
修改后的pcb图如下：
图9 调试后的pcb图
部分驻波测试数据：
表1 系统驻波部分测试数据
电路板端口 天线 系统
s22 1.54 1.51 1.78
s11 1.55 1.44 1.58
总结：此方法可以临时解决驻波和插损问题，但是不能准确确定电路的参数和pcb布线的参数，不利于提高工作效率。下一篇文章我们将研究问题的本质原因。
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图1 测试端口pcb图
图2 测试端口原理图
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测试3：端口-45 in,端口s11 out，其他端口悬空；
电平：u27_a高，u27_b低，u28_a低，u27_b高；
测试4：端口+45 in,端口s11 out，其他端口悬空；
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图4 hmc595e引脚图和真值表
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图5 没焊接u27,+45输入s22输出的通路驻波和插损
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