TRI推出高性能3D AXI

来源:silicon semiconductor
test research, inc. (tri) 推出了tr7600 sv系列。
3d axi突破性的性能比其前一代、屡获殊荣的tr7600系列提高了20%。
tr7600 sv具有7 µm分辨率,可保证高分辨率和高良率检测。tri的axi配备了ai算法,优于常用的基于灰度的算法。ai算法可以准确检测空洞缺陷。
从汽车电子到电信和高通量生产领域等行业都将受益于tr7600 sv系列的快速图像重建和缺陷检测功能。tri的x射线检测解决方案在检测时将样品固定在传送带上,防止进一步损坏。该系统提供可调节的成像参数,用于定制检查和在线微调功能。
tr7600 sv支持当前的智能工厂标准,包括ipc-cfx、ipc-dpmx和hermes标准 (ipc-hermes-9852)。


D-PHY MIPI双相机/双显示屏应用中的模拟开关
全球第四大车企 品牌确定Stellantis
意法半导体推出50W无线充电解决方案
清易CG-78静力水准仪一体化设计压差式测量
利用红外检测智能运检平台,一键导入红外热成像仪的红外图谱和数据
TRI推出高性能3D AXI
DEKRA德凯大湾区AIoT实验室获全球首批Wi-Fi 7认证资质
物联网LoRa制式误区解读
DVD刻录机购买指南
数字助听器原理及解决方案
手持吸尘器十大排名最新情况,口碑绝佳的手持吸尘器都在这里
小米或已经在测试80W无线快充
可穿戴式汗液传感器的研究进展及发展趋势
无线数字会议系统在远程工作中的应用与挑战
零序电流互感器的安裝以及特性的简单介绍
ModBus RTU与ModBus TCP通信协议详解
新规则引领希望 无人机开始涌入商业市场
realme将在明年发布100款以上的AIoT产品
NFT链游平台系统开发:NFT数字藏品交易系统开发
苹果唯一敌手:三星机海战术“围剿苹果” 力压HTC