随着5g通讯的普及、ai的兴起以及chiplet工艺的采用,待测芯片的功耗不断增大,热流密度大幅增加,可靠性试验中经常因温度监测失效、socket过热、散热片散热不好等因素导致测试失败,严重时会发生熔球烧坏pcb等破坏性问题。
为帮助客户解决这一系列问题,季丰电子建立热仿真能力,在pcb layout阶段可通过热流模拟分析对burn-in整体环境做评估,可以直观地找出问题所在,识别设计风险,并针对风险提出改善建议。
热仿真流程
热仿真案例分享
1. socket+ic+pcb整体热仿真,真实反映被测ic实际测试环境下的热分布
(socket+ic+pcb整体仿真以及热云图)
2. 对chiplet工艺的ic进行精细建模,可以对其内部的die、bump或其他器件等进行热仿真
(ic内部热仿真,ic内部各器件热仿真示图)
3. 对重要器件进行精细选材和建模,可以对多site进行仿真,可以将影响因素(风速、环境温度、功率等变量)进行模拟仿真,让仿真结果更贴合实际情况
(单site局部热仿真)
(多site大范围仿真)
(模拟机台内风速)
4. 对于熔球问题,也可以进行热仿真排查
(熔球热仿真整体示图)
(熔球热仿真细节示图)
(锡球表面温升仿真)
(针表面温升仿真)
5. 瞬态模拟,可以查看某时刻温度云图
(查看某时段的动态温度云图)
1394引脚定义
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