镀通孔、化学铜和直接电镀制程术语手册
1、acceleration 速化反应
广义指各种化学反应中,若添加某些加速剂后,使其反应得以加快之谓。狭义是指镀通孔(pth)制程中,经活化反应后在速化槽液中,以酸类(如硫酸或含氟之酸类等)剥去所吸附钯胶体的外壳,使露出活性的钯金属再与铜离子直接接触,而得到化学铜层之前处理反应。
2、accelerator 加速剂,速化剂
指能促使化学反应加速进行之添加物而言,电路板用语有时可与 promotor互相通用。又待含浸的树脂,其 a-stage 中也有某种加速剂的参与。另在 pth 制程中,当锡钯胶体着落在底材孔壁上后,需以酸类溶去外面的锡壳,使钯直接与化学铜反应,这种剥壳的酸液也称为速化剂。
3、activation 活化
通常泛指化学反应之初所需出现之激动状态。狭义则指 pth 制程中钯胶体着落在非导体孔壁上的过程,而这种槽液则称为活化剂(activator)。另有activity之近似词,是指活性度而言。
4、activator 活化剂
在 pcb 工业中常指助焊剂中的活化成份,如无机的氯化锌或氯化铵,及有机性氢卤化胺类或有机酸类等,皆能在高温中协助松脂酸对待焊金属表面进行清洁的工作。此等添加剂皆称为 activator 。
5、back light(back lighting) 背光法
是一种检查镀通孔铜壁完好与否的放大目测法。其做法是将孔壁外的基材,自某一方向小心予以磨薄逼近孔壁,再利用树脂半透明的原理,自背后薄基材处射入光线。假若化学铜孔壁品质完好并无任何破洞或针孔时,则该铜层必能阻绝光线而在显微中呈现黑暗。一旦铜壁有破洞时,则必定有光点出现而被观察到,并可加以放大摄影存证,称为背光检查法,亦称之为through light method ,但只能看到半个孔壁。
6、barrel 孔壁,滚镀
在电路板上常用以表示 pth 的孔壁,如 barrel crack 即表铜孔壁的断裂。但在电镀制程中却用以表示滚镀,是将许多待镀的小零件,集体堆放在可转动的滚镀桶中,以互相碰触搭接的方式,与藏在其内的软性阴极导电杆连通。操作时可令各小件在垂直上下滚动中进行电镀,这种滚镀所用的电压比正常电镀约高出三倍。
7、catalyzing 催化
催化是一般化学反应前,在各反应物中所额外加入的介绍人,令所需的反应能顺利展开。在电路板业中则是专指 pth 制程中,其氯化钯槽液对非导体板材进行的活化催化,对化学铜镀层先埋下成长的种子。不过此学术性的用语现已更通俗的说成活化(activation)或核化(nucleating),或下种(seeding)了。另有catalyst,其正确译名是催化剂。
8、chelate 螯合
某些有机化合物中,其部份相邻原子上,互有多余的电子对,可与外来的二价金属离子(例如ni2+,co2+,cu2+ 等)共同组成环状(ring),类似螃蟹的两支大螯般共同夹住外物一样,称之为螫合作用。具有这种功能的化合物者,称为chelating agent。如edta(乙二胺基四醋酸),eta等都是常见的螯合剂。
9、circumferential separation 环状断孔
电路板的镀通孔铜壁,有提供插焊及层间互相连通(interconnection)的功能,其孔壁完整的重要性自不待言。环状断孔的成因可能有 pth 的缺失,镀锡铅的不良造成孔中覆盖不足,以致又被蚀断等,此种整圈性孔壁的断开称为环状断孔,是一项品质上的严重缺点。
10、colloid 胶体
是物质分类中的一种流体,如牛奶、泥水等即是胶体溶液。是由许多巨分子或小分子聚集在一起,在液中呈现悬浮状态,与糖水盐水等真溶液不同。pth制程其活化槽液中的钯,在供货商配制的初期是呈现真溶液,但经老化后到达现场操作时,却另显现出胶体溶液状态,也唯有在胶体槽液中,板子才能完成活化化反应。
11、direct plating 直接电镀,直接镀板
这是近年来所兴起的一种新制程,欲将传统有害人体含甲醛的化学铜从 pth 中排除,而对孔壁先做金属化的准备工作(如黑孔法、导电高分子法、电镀化学铜法等),再直接进行电镀铜以完成孔壁,现已有多种商用制程正在推广中。
12、edta乙胺四醋酸
是ethylene-diamine-tetra-acetic acid的缩写,为一种重要的有机螫合剂,无色结晶稍溶于水。其分子式中的四个能解离的氢原子,可被钠原子取代而成二钠、三钠或四钠盐,使水中溶度大为提高。其水解后空出两个负端,可补捉水中的二价金属离子,如螃蟹的两把螯夹一般称为螯合。edta用途极广,如各种清洁剂、洗发精、化学铜及电镀、抗氧化剂、重金属解毒剂,及其它药品类,是一种极重要的添加助剂。
13、electroless-deposition无电镀
在能够进行自我催化(autocatalytic)而还原的金属离子(如铜或镍)槽液中,其中所设置负电性较强的金属或非金属表面,在无需外加电流下,即能连续不断沉积出金属的制程称为无电镀。电路板工业中以无电铜为主,另有同义字化学铜,大陆业界则称为沉铜。
14、feed through hole 导通孔
即plated through hole的另一说法。通孔原本目的有二,即插件及做为各层间的互连(interconnect)通电,目前smt比例增大,插装零件很少。故通常为了节省板面的面积,这种不插件的通孔,其直径很小(20mil以下),而且不一定是全板贯孔。各种vias中凡全板贯通者称为贯通孔,局部贯通两端无出口者,称为埋通孔或埋孔(buried hole),局部贯通而有一端口者,称为盲孔(blind hole)。
15、hole preparation 通孔准备
指完成钻孔的裸材孔壁,在进行化学铜镀着之前,先要对其非导体孔壁进行清洁,及使带正静电之处理,并完成随后之微蚀处理与各站之水洗。使孔壁先能沉积上一层带负电的钯胶囊团,称为活化处理。再续做速化处理,将钯胶囊外围的锡壳剥掉以便接受化学铜层的登陆。上述一系列槽液对底材孔壁的前处理,总称之为通孔准备。
16、metallization 金属化
此字的用途极广,施工法也种类众多不一而足。在电路板上多指镀通孔化学铜制程,使在非导体的孔壁上,先得到可导电的铜层,谓之金属化。当然能够派用在孔壁上做为金属化目的者,并非仅只有铜层一项而已。例如德国著名电镀品供货商 schlotter 之 slotoposit 制程,即另以化学镍来进行金属化制程。目前所流行的direct plating,更是以各种可导电的非金属化学品,如碳粉、pyrrole,或其它导电性高分子等。由是可知在科技的进步下,连原有的金属化名词也应改做导电化才更符合生产线上的实际情况。
17、nucleation,nucleating 核化
这是较老的术语,是指非导体的板材表面接受到钯胶体的吸附,而能进一步使化学铜层得以牢固的附着,这种先期的预备动作,现在最常见的说法便是活化(activation),早期亦另有 nucleating 、seeding ,或 catalyzing 等。
18、outgassing 出气,吹气
电路板在进行镀通孔制程时,若因钻孔不良造成孔壁坑洞太多,而无法让化学铜层均匀的铺满,以致存在着曝露底材的破洞(voids)时,则可能自各湿制程吸藏水份,而在后来高温焊接制程中形成水蒸气向外喷出。吹入孔内尚处在高温液态的焊锡中,将在后来冷却固化的锡柱中便形成空洞。这种自底材铜壁破洞向外喷出水蒸气的现象称为out-gassing。而发生吹气的不良镀通孔,则称吹孔 (blow hole) 。注意,若出气量很多时,会常往板子焊锡面尚未固化的锡柱冲出并喷向板外,呈现如火山口般的喷口。故当板子完成焊接后,若欲检查品质上是否有吹孔时,则可在板子的焊锡面去找,至于组件面因处于锡池的背面会提前冷却,致使出现喷口的机会并不多。
19、palladium钯
是白金的贵金属之一,在电路板工业中是以氯化钯的胶体离子团,做为pth制程中的活化剂(activator),当做化学铜层生长的前锋部队。数十年来一直居于无可取代的地位,连最新发展中直接电镀(direct plating)法的佼佼者crimson,也是以硫化钯做为导电的基层。
20、plated through hole,pth镀通孔
是指双面板以上,用以当成各层导体互连的管道,也是早期零件在板子上插装焊接的基地,一般规范即要求铜孔壁之厚度至少应在1 mil以上。近年来零件之表面黏装盛行,pth多数已不再用于插装零件。因而为节省板面表面积起见,都尽量将其孔径予以缩小(20 mil以下),只做为互连(interconnection)的用途,特称为导通孔(via hole)。
21、pull away拉离
指镀通孔制程之前处理清洁不足,致使后来在底材上所完成的铜孔壁(化学铜加电镀铜)固着力欠佳,以致根基不稳容易脱离。例如当双面板在进行pth前,并未做过除胶渣(smear removal)处理,其铜壁虽也能顺利的生长,但当胶渣太多或遭遇到漂锡与焊接之强热考验时,其铜壁与底材之间将出现可能分离的现象,称为pull away。
22、seeding下种
即pth之活化处理 (activation)制程;下种是早期不甚妥当的术语。
23、sensitizing敏化
早期 pth的制程中,在进行化学铜处理之前,必须对非导体底材进行双槽式的活化处理,并非如现行完善的单槽处理。昔时是先在氯化亚锡槽液中,令非导体表面先带有二价锡的沉积物,再进入氯化钯槽使二价钯进行沉积(即activation)。亦即让其两种金属离子,在板面上或孔壁上进行相互间的氧化还原,使非导体表面上有金属钯附着及出现氢气,以完成其初步之金属化,并具有很强的还原性,吸引后来铜原子的积附。此种双槽式处理前一槽的亚锡处理,称为敏化。不过目前业界已将 sensitizing 与 activation 两者视为同义字,且已统称为活化,敏化之定义已逐渐消失。
24、sequestering agent螫合剂
若在水溶液中加入某些化学品(如磷酸盐类),促使其能捉住该水溶液中的金属离子,而将之转变成为错离子(complex ion),阻止其发生沉淀或其它反应。但其与金属之间却未发生化学变化,此种只呈现捕捉的作用称为seauestering 螫合。具有此等性质且又能压抑某些金属离子在水中活性之化学品者,称为螫合剂 sequestering agent。sequestering 与 chelate 二者虽皆为螫合,但亦稍有不同。后者是一种配位(coordination)化合物 (以edta为例,见下图之结构式),一旦与水溶液中某些金属离子形成杂环状化合物后,即不易再让该金属离子离开。此类螫合剂分子如有两个位置可供结合者,称为双钩物(bidentate),如提供三个配位者则称为三钩物(tridentate)。
25、thermal zone感热区
指多层板的镀通孔壁,及套接的各层孔环,其在板材 z 轴所占据的区域,很容易感受到通孔传来的高热,故称为感热区。如镀通孔在高温中受强热后(如焊接),其感热区的受热,远比无通孔区更快也更多。其详细内容请见附图之说明。
26、void破洞,空洞
此词常用于电路板的通孔铜壁上,是指已见底的穿孔或局部铜厚低于允收下限的区域,皆谓之破洞。另在组装焊接板上,若系插孔焊接的锡柱中(solder plug),局部发生出气 (outgassing)而形成空洞;或表面黏装锡膏接点的填锡(solder fillets)中,因水份或溶剂的气化而形成另一种空洞,此二种缺点皆称为空洞。
27、wicking灯芯效应
质地疏松的灯芯或烛心,对油液会发生抽吸的毛细现象,称为wicking。电路板之板材经钻孔后,其玻璃纱束切断处常呈现疏松状,也会吸入 pth的各种槽液,以致造成一小段化学铜层存留其中,此种渗铜也称为灯芯效应。这类wicking在技术高明的垂直剖孔微切片上,几乎是随处可见。 ipc-rb-276在3.9.1.1中规定,class 1的板级其渗铜深度不可超过5 mil; class 2不可超过 4 mil; class 3更不可超过 3 mil。另外在铜丝编线或铜丝线束中,在沾锡时也会wicking发生。pth plated through hole;镀通孔
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