鳍式场效应晶体管工艺流程(FinFET)

鳍式场效应晶体管工艺流程(finfet)
从22nm 节点开始,intel公司率先成功使用了鳍式场效应晶体管(finfet),其制造工艺流程如图所示。
图中的工序1由工序1’替代,以形成鳍(fin)。
浅槽隔离和形成鳍的过程如下所述:
首先沉积鳍轴( mandrel)和硬掩模层,掩模图形化鳍轴并刻蚀,形成第一侧墙;
去除鳍轴,刻蚀硬掩模,去除光刻胶; 刻蚀硅 (120~150nm),氧化硅填充间隙,化学机械抛光,退火(鳍与鳍之间的浅槽隔离);
掩模(开 sdb 区域,以切除鳍),刻蚀硅/氧化硅(深度为 50-80nm)),氧化硅填充 sdb 间隙、化学机械抛光(鳍中间的浅槽隔离);
刻蚀氧化硅(深度为 30~50pm),以呈现出鳍的高度。‍


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