【技术专栏】泰凌微电子产测工具使用——如何制作及使用产测固件
泰凌的产测工具默认提供了多个产测固件，比如测试射频rf，测试低功耗电流，这些都属于前置测试，即测试pcba硬件是否存在异常。如果pcba板子有sensor之类的传感器，是否可以检测硬件异常呢？这是可以实现的。泰凌的产测系统的实现机制是：先生成一个ram版本的产测固件，然后通过芯片的烧录口把ram版本的产测固件加载到dut待测设备芯片的ram中，让产测固件执行相关指令，就可以达到测试的目的。本文就以tlsr8208 soc检测震动传感器为例介绍产测固件的生成和使用方法。
另外，客户对产品的各种功能进行的量产测试，我们称之为功能测试，以便和前置测试区分。这些功能测试，受限与ram空间和客户需求不同，只能客户自行实现。
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如何生成产测固件
1、下载产测固件的工程
因为产测固件需要在ram运行，有两点要求，一是启动文件是ram启动的，二是固件本身要足够小，必须小于8k，加载到ram中才能运行。泰凌已经提供了生成ram固件的demo工程，就是driver sdk中的dut_demo例程。在泰凌wiki网站下载driver sdk，如下图所示的v1.5.1版本，此driver sdk包含了b80, b85和b87三个系列芯片的driver demo：
http://wiki.telink-semi.cn/wiki/chip-series/tlsr825x-series/
2、dut_demo说明
此demo例程的具体代码并不复杂，请客户自行理解。此处只说一些关键点，如下图截取的代码：
dut_cmd_func结构体数组，一个结构体成员是cmd id，新增了dutcmd_sensor_test，定义是0x69，后面脚本文件test.tls中会用到此cmd id。另一个结构体成员就是函数指针，新增的vibration_sensor_test就是一个函数指针，在这个函数内实现震动传感器的检测。
tl_test_cmd_pkt_t_another *g_test_cmd_ptr 是一个指向ram地址（0x840004地址）的指针。此ram区域被定义为了量产夹具（jig evk）和dut测试芯片之间通信的buffer，量产的jig evk可以通过下发指令和参数，也可以读取产测的结果。比如结构体成员param[2]，是用来做输入参数（可选的），比如设定检测的震动次数，在脚本文件test.tls中有使用到。结构体成员resp[3]就是检测结果的返回值。
3、检测振动传感器的代码
检测震动传感器的机制是：使用timer定时器，来捕获gpio的脉冲输入个数。在规定的时间内，检测到脉冲数大于设定的个数（10次）则传感器正常，否则硬件异常。具体代码如下图所示。
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如何使用产测固件
1、修改脚本文件test.tls
编译driver sdk中的 dut_demo，生成的bin重命名为：dut_b80_sensor_v0001.bin，然后copy到已经配置过测试项的evkmonitor/platform/default目录下：
修改脚本文件test.tls脚本，新增下面的指令
说明1：fast_load指令是把产测固件加载到ram中的，所以输入参数的名称务必与第（1）步中产测固件的名称相同，否则加载错误。
说明2：因为 dut_b80_sensor_v0001.bin是用户自定义的测试bin文件，所以在fast_load指令之前必须先设置config[12] = 0.如果后面要继续使用泰凌提供的测试bin文件，如dut_8258_flash_v0005.bin，则必须重新设置config[12] = 1。
说明3：dutcmd指令说明参考下图，
cmd id是0x69，对应程序中的dutcmd_sensor_test宏定义
para0 = 10，对应程序中设定的震动次数
para1没有用到，设为0
超时时间，设定为5s，也就是dutcmd指令的超时时间；必须大于程序里检测震动的工作时间3s。
2、产测的使用
更改了test.tls脚本后，需要重新download到jig evk里面才能生效。打开evkmonitor软件进行在线测试，结果如下。
测试通过pass的显示和测试log。
测试失败的显示和测试log
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+86-0755-26614003
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原文标题：【技术专栏】泰凌微电子产测工具使用——如何制作及使用产测固件
文章出处：【微信公众号：泰凌微电子】欢迎添加关注！文章转载请注明出处。
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