泰凌的产测工具默认提供了多个产测固件,比如测试射频rf,测试低功耗电流,这些都属于前置测试,即测试pcba硬件是否存在异常。如果pcba板子有sensor之类的传感器,是否可以检测硬件异常呢?这是可以实现的。泰凌的产测系统的实现机制是:先生成一个ram版本的产测固件,然后通过芯片的烧录口把ram版本的产测固件加载到dut待测设备芯片的ram中,让产测固件执行相关指令,就可以达到测试的目的。本文就以tlsr8208 soc检测震动传感器为例介绍产测固件的生成和使用方法。
另外,客户对产品的各种功能进行的量产测试,我们称之为功能测试,以便和前置测试区分。这些功能测试,受限与ram空间和客户需求不同,只能客户自行实现。
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如何生成产测固件
1、下载产测固件的工程
因为产测固件需要在ram运行,有两点要求,一是启动文件是ram启动的,二是固件本身要足够小,必须小于8k,加载到ram中才能运行。泰凌已经提供了生成ram固件的demo工程,就是driver sdk中的dut_demo例程。在泰凌wiki网站下载driver sdk,如下图所示的v1.5.1版本,此driver sdk包含了b80, b85和b87三个系列芯片的driver demo:
http://wiki.telink-semi.cn/wiki/chip-series/tlsr825x-series/
2、dut_demo说明
此demo例程的具体代码并不复杂,请客户自行理解。此处只说一些关键点,如下图截取的代码:
dut_cmd_func结构体数组,一个结构体成员是cmd id,新增了dutcmd_sensor_test,定义是0x69,后面脚本文件test.tls中会用到此cmd id。另一个结构体成员就是函数指针,新增的vibration_sensor_test就是一个函数指针,在这个函数内实现震动传感器的检测。
tl_test_cmd_pkt_t_another *g_test_cmd_ptr 是一个指向ram地址(0x840004地址)的指针。此ram区域被定义为了量产夹具(jig evk)和dut测试芯片之间通信的buffer,量产的jig evk可以通过下发指令和参数,也可以读取产测的结果。比如结构体成员param[2],是用来做输入参数(可选的),比如设定检测的震动次数,在脚本文件test.tls中有使用到。结构体成员resp[3]就是检测结果的返回值。
3、检测振动传感器的代码
检测震动传感器的机制是:使用timer定时器,来捕获gpio的脉冲输入个数。在规定的时间内,检测到脉冲数大于设定的个数(10次)则传感器正常,否则硬件异常。具体代码如下图所示。
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如何使用产测固件
1、修改脚本文件test.tls
编译driver sdk中的 dut_demo,生成的bin重命名为:dut_b80_sensor_v0001.bin,然后copy到已经配置过测试项的evkmonitor/platform/default目录下:
修改脚本文件test.tls脚本,新增下面的指令
说明1:fast_load指令是把产测固件加载到ram中的,所以输入参数的名称务必与第(1)步中产测固件的名称相同,否则加载错误。
说明2:因为 dut_b80_sensor_v0001.bin是用户自定义的测试bin文件,所以在fast_load指令之前必须先设置config[12] = 0.如果后面要继续使用泰凌提供的测试bin文件,如dut_8258_flash_v0005.bin,则必须重新设置config[12] = 1。
说明3:dutcmd指令说明参考下图,
cmd id是0x69,对应程序中的dutcmd_sensor_test宏定义
para0 = 10,对应程序中设定的震动次数
para1没有用到,设为0
超时时间,设定为5s,也就是dutcmd指令的超时时间;必须大于程序里检测震动的工作时间3s。
2、产测的使用
更改了test.tls脚本后,需要重新download到jig evk里面才能生效。打开evkmonitor软件进行在线测试,结果如下。
测试通过pass的显示和测试log。
测试失败的显示和测试log
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关于产测工具的连载文章
【技术专栏】泰凌微电子产测工具使用方式一
【技术专栏】泰凌微电子产测工具使用方式二
【技术专栏】泰凌微电子产测工具使用——配置带pa芯片的测试脚本
【技术专栏】泰凌微电子产测工具使用——常见问题解决方法(一)
【技术专栏】泰凌微电子产测工具使用——常见问题解决方法(二)
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原文标题:【技术专栏】泰凌微电子产测工具使用——如何制作及使用产测固件
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