泰凌微电子的产测工具默认提供了多个产测固件,比如测试射频rf,测试低功耗电流,这些属于前置测试,即测试pcba硬件是否存在异常。泰凌微电子的产测系统的实现机制是:先生成一个ram版本的产测固件,然后通过芯片的烧录口把ram版本的产测固件加载到dut待测设备芯片的ram中,让产测固件执行相关指令,就可以达到测试的目的。本文就以泰凌微电子tlsr8258 soc 检测gpio是否焊接不良为例介绍产测固件的原理和使用方法。
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gpio 测试 demo说明
此demo有两个固件,gpio测试板的固件和dut待测设备的固件,分别作为host和slave。为了测试gpio,host和slave需要连接引脚,连接示意图如下:(gpio直接对接,例如a[0]接a[0],c[1]接c[1],串口引脚定义为:b[1]=uart rx,c[3]=uart tx)
此demo例程的具体代码并不复杂,请客户自行理解。此处只说一些关键点,如下图截取的代码:
slave运行后,从flash读取gpio待检测列表,1=测,0=不测。(该列表修改方法见下文)
slave与host串口连接成功后,开始检测gpio,检测过程见源码注释。
host代码较为简单,主要是串口回复slave的连接请求,host回复slave当前读取的gpio电平数据。
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gpio 测试的具体步骤
step1:
iotset_host.bin烧录到gpio测试板的flash。根据上文提到的接线示意图接线。添加iotset_slave.bin到文件夹:evkmonitorplatformdefault
step2:
设置有哪些gpio需要测试。通过修改bin格式的固件来指定哪些gpio需要进行测试,固件地址和对应关系如下图,1=需要测试,0=不需要测试,例如a76543210对应的设置参数是01 11 11 11,即:a7=0,a6=1,a5=1,a4=1,a3=1,a2=1,a1=1,a0=1。a7是sws烧录口,不测试。(可以使用notepad++编辑固件)
step3:
使用文本编辑软件打开test.tls,添加如下内容用于判断gpio是否测试通过:
关于这些指令的具体含义,可以参考《an_20021101-c1_decription of the script test.tls of evk testbench ble 2m flash.pdf》
step4:
使用evk_monitor软件重新烧录量产夹具(download之后量产夹具需要重新上电)。
step5:
使用evk_monitor软件开始产测
如果测试通过,则flash的0x41028地址写入0x28,并且擦除该区域,不通过则写入其他值,还可以通过该值判断具体是哪个gpio出了问题。
gpio测试成功的案例如下图所示:(返回0x28,则gpio测试通过)
gpio测试失败的案例如下图所示:(返回0xa1,则gpio的a1引脚故障,故障可能是虚焊、pcb线断、引脚短路、芯片损坏...)
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