校准DS4830光微控制器的ADC内部失调
ds4830光微控制器的模数转换器（adc）失调会随着温度和增益选择而变化。但是，ds4830允许用户测量adc内部失调。测得的adc失调被添加到adc失调寄存器中，以消除失调误差。本应用笔记演示ds4830在应用中的adc内部失调校准。
介绍
模数转换器（adc）将输入电压转换为相应的数字代码。完美的adc代表了整个代码空间中的这种行为。图1显示了采用2v基准电压源的3位adc的传递函数。
图1.1/2 lsb补偿的理想3位adc。
但是，很难设计出满足所有架构中完美adc特性的adc。由于各种设计限制或约束，adc输出会产生各种误差，例如积分非线性（inl）、差分非线性（dnl）、增益和失调。
失调误差是adc中最常见的误差。用于零电压输入（adc输入接地）的adc数字代码输出称为adc失调。图2显示了带失调的3位adc的传递函数。
图2.具有失调功能的1/2 lsb补偿3位adc。
ds4830 adc内部失调
ds4830光学微控制器具有13位adc和adc失调寄存器（advoff），用于校准adc内部失调。对于每个ds4830，在室温下，adc增益adcg1 （1.216v满量程）的失调经过工厂校准。但是，ds4830 adc内部失调会随着温度和增益选择而变化。
ds4830可以测量任何可用adc增益设置的adc内部失调。然后，该测量可用于校准advoff寄存器。为了测量adc内部失调，adc控制器将内部接地连接到adc输入，并在adc上开始转换。adc 控制器在位置 25 处有一个专用通道选择，指示 adc 控制器测量 adc 内部偏移。adc控制器没有专用的数据缓冲器来存储adc内部失调转换结果。要访问内部失调转换结果，必须使用adc控制器中的位置覆盖选项。
adc内部失调的位置覆盖选项
默认情况下，adc转换结果存储在与通道号对应的adc缓冲器位置。adc 控制器提供“位置覆盖”选项。此选项允许将adc转换结果放置在任何数据缓冲区位置（0-24个数据缓冲区位置）。adc控制寄存器（adcn）具有loc_ovr位的位置覆盖。将此位设置为1将使用户能够选择存储adc转换结果的备用位置。当 adc 状态寄存器 （adst） 中的 adc 转换配置寄存器选择位 （adcfg） 设置为 1 时，备用位置由 addata[12：8] 位 （alt_loc[4：0]） 定义。
用于内部失调测量的adc配置步骤
以下步骤解释了ds4830的adc数据和配置寄存器（addata）配置，用于adc内部失调测量。
以下位设置为adcn和adst寄存器中的相应值。
位置覆盖位 （adcn.loc_ovr） 到 1
adc 配置选择位 （adst.adcfg） 到 1
adc 寄存器索引位 （adst.adidx[4：0]） 到 0
写入 addata 寄存器 （addata）。addata[4：0] 位中的 adc 通道选择位 adch[4：0] 应为 25。此外，在 addata 寄存器中的备用位置位 alt_loc[4：0] 写入（0 到 24 之间的任何值）。adc内部失调转换结果放置在配置的备用位置位所指向的数据缓冲位置。例如
addata = 0x0039;这将配置adc进行内部失调测量、差分模式、备用位置0、增益1和adc右对齐。
addata = 0x4139;这将adc配置为内部失调测量、差分模式、备用位置1、增益3和adc右对齐。
addata = 0x6439;这将adc配置为内部失调测量、差分模式、备用位置4、增益4和adc右对齐。
设置 adc 配置选择（adst.adcfg） 至 0 和 adc 寄存器索引位 （adst.adidx[4：0]） 为 0。
adc 内部失调测量和校准
将adc配置为内部失调测量后，adcn寄存器中的adc转换起始位（adconv）设置为1以开始adc转换。adc 控制器将内部接地连接到 adc 输入，以测量 adc 内部失调，并在 adc 上开始转换。转换结果是测得的adc内部失调。这可以从 alt_loc[4：0] 位指示的数据缓冲区位置读取，该位置在 adc 配置期间设置。
要校准adc内部失调，请将测得adc内部失调的负值（2的补码）添加到advoff寄存器。基于测得的adc内部失调的advoff值示例如表1所示。这些 advoff 值假定工厂校准的 advoff 值为 0。在正常的adc操作期间，advoff中的值先添加到转换结果中，然后再将最终结果添加到数据缓冲区中。
测量的 adc 内部办公室
advoff寄存器（十六进制）
十进制 （十六进制）
-2
fffeh
0002小时
-1
ffffh
0001小时
0 0000小时
0000小时
1 0001小时
ffffh
2 0002小时
fffeh
注意：在上电复位（por）期间，校准值将被出厂默认值覆盖。
示例代码
main.c 中的代码演示了 adc 内部失调校准步骤。
流程图
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介绍
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图1.1/2 lsb补偿的理想3位adc。
但是，很难设计出满足所有架构中完美adc特性的adc。由于各种设计限制或约束，adc输出会产生各种误差，例如积分非线性（inl）、差分非线性（dnl）、增益和失调。
失调误差是adc中最常见的误差。用于零电压输入（adc输入接地）的adc数字代码输出称为adc失调。图2显示了带失调的3位adc的传递函数。
图2.具有失调功能的1/2 lsb补偿3位adc。
ds4830 adc内部失调
ds4830光学微控制器具有13位adc和adc失调寄存器（advoff），用于校准adc内部失调。对于每个ds4830，在室温下，adc增益adcg1 （1.216v满量程）的失调经过工厂校准。但是，ds4830 adc内部失调会随着温度和增益选择而变化。
ds4830可以测量任何可用adc增益设置的adc内部失调。然后，该测量可用于校准advoff寄存器。为了测量adc内部失调，adc控制器将内部接地连接到adc输入，并在adc上开始转换。adc 控制器在位置 25 处有一个专用通道选择，指示 adc 控制器测量 adc 内部偏移。adc控制器没有专用的数据缓冲器来存储adc内部失调转换结果。要访问内部失调转换结果，必须使用adc控制器中的位置覆盖选项。
adc内部失调的位置覆盖选项
默认情况下，adc转换结果存储在与通道号对应的adc缓冲器位置。adc 控制器提供“位置覆盖”选项。此选项允许将adc转换结果放置在任何数据缓冲区位置（0-24个数据缓冲区位置）。adc控制寄存器（adcn）具有loc_ovr位的位置覆盖。将此位设置为1将使用户能够选择存储adc转换结果的备用位置。当 adc 状态寄存器 （adst） 中的 adc 转换配置寄存器选择位 （adcfg） 设置为 1 时，备用位置由 addata[12：8] 位 （alt_loc[4：0]） 定义。
用于内部失调测量的adc配置步骤
以下步骤解释了ds4830的adc数据和配置寄存器（addata）配置，用于adc内部失调测量。
以下位设置为adcn和adst寄存器中的相应值。
位置覆盖位 （adcn.loc_ovr） 到 1
adc 配置选择位 （adst.adcfg） 到 1
adc 寄存器索引位 （adst.adidx[4：0]） 到 0
写入 addata 寄存器 （addata）。addata[4：0] 位中的 adc 通道选择位 adch[4：0] 应为 25。此外，在 addata 寄存器中的备用位置位 alt_loc[4：0] 写入（0 到 24 之间的任何值）。adc内部失调转换结果放置在配置的备用位置位所指向的数据缓冲位置。例如
addata = 0x0039;这将配置adc进行内部失调测量、差分模式、备用位置0、增益1和adc右对齐。
addata = 0x4139;这将adc配置为内部失调测量、差分模式、备用位置1、增益3和adc右对齐。
addata = 0x6439;这将adc配置为内部失调测量、差分模式、备用位置4、增益4和adc右对齐。
设置 adc 配置选择（adst.adcfg） 至 0 和 adc 寄存器索引位 （adst.adidx[4：0]） 为 0。
adc 内部失调测量和校准
将adc配置为内部失调测量后，adcn寄存器中的adc转换起始位（adconv）设置为1以开始adc转换。adc 控制器将内部接地连接到 adc 输入，以测量 adc 内部失调，并在 adc 上开始转换。转换结果是测得的adc内部失调。这可以从 alt_loc[4：0] 位指示的数据缓冲区位置读取，该位置在 adc 配置期间设置。
要校准adc内部失调，请将测得adc内部失调的负值（2的补码）添加到advoff寄存器。基于测得的adc内部失调的advoff值示例如表1所示。这些 advoff 值假定工厂校准的 advoff 值为 0。在正常的adc操作期间，advoff中的值先添加到转换结果中，然后再将最终结果添加到数据缓冲区中。
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advoff寄存器（十六进制）
十进制 （十六进制）
-2
fffeh
0002小时
-1
ffffh
0001小时
0 0000小时
0000小时
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ffffh
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