怎么实现1600mm幅宽极片超高速面密度测量呢？
锂电企业对于极限效率目标的追逐，正对锂电智能装备进行新一轮的筛选。
其背后的原因是，今年以来，无论是中国新能源汽车市场还是储能市场，由于价格战愈演愈烈，降本压力不断传递至动力电池行业。通过选择更高效率、更低能耗设备，降低单位产品生产成本，进而成为锂电企业提升产品竞争力的关键之一。
与此同时，锂电企业前期已对技术门槛更高的核心工序，率先进行了技术升级，由此联动其他装备不断进行革新升级，逐步达成整线极限制造的要求。
产线技术升级需求在锂电池生产前端工序表现尤为明显。原因在于，一方面，极片制造是锂电池生产最重要的环节之一，极片面密度与厚度的精度控制直接影响锂电池的容量与安全性，因此，锂电池制造对面密度检测设备有着极高的要求。
另一方面，随着核心工序涂布机的技术升级，涂布设备宽幅已从原有的1000-1200mm扩大至1400-1600mm，涂布速度由60-80m/min提升至100-120m/min。
随着极片宽度的增加，涂布机速度的提升，导致采样率大幅度降低。宽幅、高速的极限产能和对测量效率的要求提高，以及涂布边缘削薄区精确测量的极高质量要求，导致旧有的设备已不能满足需求，市场对于扫描效率更快、分辨力更强面密度测量仪的需求声量不断提高。
这也意味着，能够紧贴客户需求，产品技术快速迭代，解决客户应用痛点的装备企业，将能持续享受技术红利。
高工锂电获悉，大成精密以其深厚的研发能力和扎实、深厚的技术积淀，推出了super x-ray面密度测量仪，具备超宽幅涂布测量、超高速涂布扫描等应用特征。
据悉，大成精密super x-ray面密度测量仪可适应超过1600mm幅宽的测量，支持超高速扫描，可检测削薄区、划痕、陶瓷边等微小特征，助力解决涂布闭环实施问题。
其核心优势也十分突出：
1、超宽幅涂布测量：可适应超过1600mm幅宽的测量；
2、超高速涂布扫描：高速、高精度直线电机驱动，扫描速度0-60米/分可调，较传统方案提高3-4倍；
3、创新固态半导体探测器：大成自主研发的锂电行业创新极片测量固态半导体射线探测器，微秒级响应性，响应速度较传统方案提升10倍；
4、自研高速测量电路：采样频率可达200khz，提升涂布闭环的效率与准确性；
5、削薄容量损失计算：涂布工序中削薄容量损失最大可能超过2%，super x-ray光斑宽度最窄可达1mm，可以准确测量极片涂覆区“边缘削薄轮廓、划痕”等细节特征；
6、光斑1mm-18mm在线切换功能，产线测量最优解：应对不同需求时，可定义自动切换光斑尺寸。
其中，大成精密两大自主创新技术尤为吸引行业关注。
一是固体探测器。大成精密创新自主研发的固态半导体射线探测器，相比于传统气体探测器等方案，具有集成度更高、易维护、体积小、重量轻、响应速度快、精度高等优势，更适合于快速扫描。
二是削薄容量损失计算。该技术由大成精密行业首创，可利用＜1mm宽度光斑测量极片的轮廓，计算出削薄导致的容量损失可达到1.4%。
除此以外，super x-ray面密度测量仪软件功能齐全，测量系统主界面可自定义显示，可进行削薄区判定、容量判定、划痕判定等。
在落地应用方面，大成精密super x-ray面密度测量仪表现出色。根据某锂电行业龙头企业现场使用super x-ray面密度测量仪进行分区数据msa验证的使用反馈：
%p/t着重评估测量系统针对相关产品规格的测量效果，强调测量系统对公差界限的分析性能（判断产品是否合格）能否测量得足够精确。
%gager&r着重评估测量系统对整体过程变异的测量效果，强调测量系统对生产过程改进分析性能（过程是否已有改进）能否测量得足够精确。
%p/t和％gager&r是评估测量系统性能的两个不同方面，缺少其中任何一个都将是不全的。一个好的测量系统，必须同时使这两项指标都足够小，下表归纳了两个指标的判断依据，为测量系统合格标志:
大成精密super x-ray面密度测量仪在该客户的应用中表现为：
40米/分钟扫描速度%grr 3.85％，%p/t 2.40%；
60米/分钟扫描速度%grr 5.12％、%p/t 2.85%。
其结果远远超出良好判定值，可以看到，super x-ray面密度测量仪大大提高扫描效率、提高生产效率，给客户带来更好的生产效益，获得了客户的肯定。
从此次大成精密的super x-ray面密度测量仪的客户使用反馈，可以窥见大成精密的产品实力、研发实力和技术实力，作为极片测量领域的领导者，大成精密实力不容小觑。
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与此同时，锂电企业前期已对技术门槛更高的核心工序，率先进行了技术升级，由此联动其他装备不断进行革新升级，逐步达成整线极限制造的要求。
产线技术升级需求在锂电池生产前端工序表现尤为明显。原因在于，一方面，极片制造是锂电池生产最重要的环节之一，极片面密度与厚度的精度控制直接影响锂电池的容量与安全性，因此，锂电池制造对面密度检测设备有着极高的要求。
另一方面，随着核心工序涂布机的技术升级，涂布设备宽幅已从原有的1000-1200mm扩大至1400-1600mm，涂布速度由60-80m/min提升至100-120m/min。
随着极片宽度的增加，涂布机速度的提升，导致采样率大幅度降低。宽幅、高速的极限产能和对测量效率的要求提高，以及涂布边缘削薄区精确测量的极高质量要求，导致旧有的设备已不能满足需求，市场对于扫描效率更快、分辨力更强面密度测量仪的需求声量不断提高。
这也意味着，能够紧贴客户需求，产品技术快速迭代，解决客户应用痛点的装备企业，将能持续享受技术红利。
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据悉，大成精密super x-ray面密度测量仪可适应超过1600mm幅宽的测量，支持超高速扫描，可检测削薄区、划痕、陶瓷边等微小特征，助力解决涂布闭环实施问题。
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3、创新固态半导体探测器：大成自主研发的锂电行业创新极片测量固态半导体射线探测器，微秒级响应性，响应速度较传统方案提升10倍；
4、自研高速测量电路：采样频率可达200khz，提升涂布闭环的效率与准确性；
5、削薄容量损失计算：涂布工序中削薄容量损失最大可能超过2%，super x-ray光斑宽度最窄可达1mm，可以准确测量极片涂覆区“边缘削薄轮廓、划痕”等细节特征；
6、光斑1mm-18mm在线切换功能，产线测量最优解：应对不同需求时，可定义自动切换光斑尺寸。
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