东丽研究中心株式会社(以下简称“trc”)和富士通先进技术株式会社(以下简称“fatec”)宣布开始在电子元器件封装领域进行合作并提供服务。
近年来,电子产品技术快速发展,然而起到支撑作用的半导体微型化发展却面临着“天花板”。除了要求半导体技术微型化,还要求电子元件封装的高端化。在这样的背景下,通过灵活运用trc丰富的分析技术、经验和fatec的电子元件组装、模拟技术,可以联手提供更能满足客户需求的服务。
合作背景
近年来,对ai、iot、无人驾驶来说,高密度电子零部件是刚需,支撑其“主干”的半导体技术的微型化却不断面临“天花板”,目前除了要求半导体技术的微型化,还要求电子元件封装技术的高端化,例如,lsi(large scale integrated circuit,大规模集成电)上使用tsv(through silicon via,硅片通道)的三维积层封装(是一种把数层lsi积层起来并进行立体式高密度化的产品)技术、使用硅插技术(silicon interposer)的2.5维封装(一种把数层lsi在平面上进行高密度封装的产品)等。
在这些高端的电子元件封装领域,客户不断要求提出设计和制程中发生问题的解决方案、分析故障设备。在技术开发、不良分析方面,不仅要彻底分析实物、正确把握现象,而且为了正确解析发生故障的设备、实现最优化设计,模拟技术也变得非重要。
合作概要
trc一直接受汽车、it机器、电子零部件等高分子材料、半导体材料、金属材料等所有材料的受托分析、评价。为此,一直支持各领域解决研发中遇到的问题、详细分析不良品、故障品。另一方面,fatec灵活运用了面向超级计算机(super computer)和服务器的热、应力、高速传送的模拟技术,并提供电子元件封装的构造设计技术和制程技术。
此次,针对客户的从设计到试样、量产一系列研发制程,利用trc的最尖端分析技术(real,现实)和fatec的电子元件封装技术、构造、热模拟技术(virtual,虚拟)的“两架马车”,在更高度化的电子元件封装领域,实现强强联合、提供工程服务。
因此,可以达到缩短研发新元件和封装产品的时间、验证电子元件构造设计是否合理、明确解析故障发生时的机械构造,从而为客户缩短开发周期做出贡献。
今后,我们会致力于研究灵活运用ai技术的、高精度的电子元器件封装的接合寿命预测服务等项目。
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