业内专家云集对话高端研讨,打破半导体测试技术壁垒

来源:半导体芯科技
在半导体制造产业链中,测试工序是一个十分重要的环节。后摩尔时代,在现有极限工艺制程的条件下,平面ic逐步过渡到三维,出现了异质构成、3d堆叠等先进封装技术。随着这些新的趋势和变化,相应的ic制造、检测等工艺也应与时俱进。
无论是在前道量测进行的缺陷检查、图案检测等工序,还是在后道测试环节中进行的芯片电性能等测试,测试设备作为优化制程、控制良率、提高效率与降低成本的关键,在半导体产业中的地位日益凸显。随着半导体行业检测工序的专业化和测试领域的细分,出现了面向特定器件的垂直测试机构,比如针对高速数字芯片、射频芯片的测试服务、针对显示器件的测试服务等。
在此背景下,全球半导体测试企业纷纷升级研发,在2022年8月25日第十三届晶芯在线研讨会上,我们将共同探讨车规级芯片检测、slt测试、存储芯片测试、半导体测试设备发展趋势等话题,面对5g、大数据、人工智能等新兴市场的崛起,满足半导体企业间的测试对接需求。


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