2nm芯片可以使用这种新材料

目前,替代性的金属化材料(例如钌)和替代性的金属化制程(例如半镶嵌),正被密集的研究中,以前进2纳米或者以下制程技术的前段(beol)和中段(mol )互联。
在前段设计中,imec提出了一种半镶嵌(semi-damascene)整合技术,作为传统的双重镶嵌(dual-damascene)的替代方案。为了能够完全的发挥这种结构技术的潜力,需要有除了铜(cu)或钴(co)以外的其他金属,它们可以被沉积而无扩散阻挡层,且具有高的体电阻率,并可以被图模式的使用,例如:减成蚀刻。这个结构也可以增加互连的高度,并结合气隙作为电介质,将有望减少阻容(rc)延迟,这是后段制程的主要瓶颈。
imec首次使用「钌」进行金属化,并在300mm晶圆上制造并特性化了双金属层的半镶嵌模组。在30纳米金属间距线的测试结构显示,有超过80%以上的可重复性(无短路迹象),且使用寿命超过10年。同时钌的气隙结构的物理稳定性可与传统的铜双重镶嵌结构相比。
imec还展示了在先进mol接触插塞中,使用「钌」替代钴或钨的优势。imec cmos元件技术总监naoto horiguchi指出,无阻绝层的钌,有潜力进一步减小因缩小接触面积而产生的接触电阻。
在一项评测研究中,imec评估了钌和钴,结果表明钌是替代mol狭窄沟槽中的钴,最有希望的候选方案。在0.3纳米氮化钛(tin)内衬(无阻挡层)的孔洞,填充钌的电阻的性能,优于在相当的制程中填充钴(有1.5纳米氮化钛阻挡层)。研究还证明,钌作为源极和汲极接触材料,在p-硅锗(sige)和n-硅(si)上的接触电阻率都较低,约为10-9ωcm-2。
本文整合自:ctimes、摩尔芯闻


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