8月22日|泰克云上大讲堂—半导体可靠性热载流子效应测试详解
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芯片上更多器件和更快时钟速度的不断发展，推动了几何形状缩小、新材料和新技术的发展。由于更脆弱、功率密度更高、器件更复杂和新的失效机制，这些因素都对单个器件的寿命和可靠性产生了巨大的影响，可能仅有10年的寿命，即使是很小的寿命变化，对设备来说也可能是灾难性的，所以器件的寿命和可靠性尤为重要。
在现代超大规模集成电路中，热载流子效应退化是一个相当重要的可靠性问题，热载流子效应测试是半导体工业中非常重要的一个环节，用于评估半导体器件在实际应用中的可靠性，并推算器件使用寿命，从而提高产品的品质和稳定性。
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本期直播预告
本期云上大讲堂，泰克高级应用工程师 刘建章将着重为大家介绍：
■ 热载流子形成和分类
■ 热载流子效应的机理
■ 热载流子效应对半导体器件的影响
■ 热载流子效应可靠性测试方案
■ 器件热载流子效应的寿命估算
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时间
2023年8月22日（周四）1445
1400
半导体可靠性热载流子效应测试详解
1530
互动答疑
1545
抢答有奖
讲师介绍
刘建章
泰克高级应用工程师
主要负责西北区域的技术支持工作。多年以来一直在从事系统集成及测试测量相关工作，积累了丰富的产品开发流程及测试经验。目前主攻方向包括半导体分立器件测试、晶圆可靠性测试、晶圆自动化测试等。
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欲知更多产品和应用详情，您还可以通过如下方式联系我们：
邮箱：china.mktg@tektronix.com
网址：tek.com.cn
电话：400-820-5835(周一至周五900)
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我们提供专业的测量洞见信息，旨在帮助您提高绩效以及将各种可能性转化为现实。
泰克设计和制造能够帮助您测试和测量各种解决方案，从而突破复杂性的层层壁垒，加快您的全局创新步伐。我们携手共进，一定能够帮助各级工程师更方便、更快速、更准确地创造和实现技术进步。
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原文标题：8月22日|泰克云上大讲堂—半导体可靠性热载流子效应测试详解
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主要负责西北区域的技术支持工作。多年以来一直在从事系统集成及测试测量相关工作，积累了丰富的产品开发流程及测试经验。目前主攻方向包括半导体分立器件测试、晶圆可靠性测试、晶圆自动化测试等。
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