《涨知识啦19》之HEMT 的电流崩塌效应的讲解

《涨知识啦19》---hemt 的电流崩塌效应
在之前的《涨知识啦》章节中,小赛已经介绍了gan材料中极化效应以及二维电子气(2deg)的产生原理。因2deg具有超高的沟道迁移率,所以2dge可以应用在高电子迁移率晶体管(hemt)中,而本周主要介绍的是gan基hemt中存在的电流崩塌现象。hemt主要是以2deg为导电沟道中的电流载体,通过改变栅电极偏置电压控制沟道中2deg的通断,实现对hemt电流的调制。由于2deg中电子基本不受杂质散射的影响,沟道中的电子迁移率较高,所以在直流高频应用领域可以表现出优异的性能。
但hemt仍然存在一些问题亟待解决。如下图(a)所示,可以观测到器件中源漏电流值低于理想电流值,器件通态电阻增大,这就是hemt中的电流崩塌效应。虚栅效应被公认为是造成电流崩塌效应的关键因素。由于algan/gan hemt中陷阱效应的存在,从栅极中泄漏的电子会填满器件表面的陷阱,从而形成虚栅[如下图(b)所示]。虚栅可以影响耗尽区域,从而额外耗尽沟道中的电子,最终导致电流崩塌。
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