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dasp (defect and dopant ab-initio simulation package)是一款半导体缺陷和杂质性质的第一性原理计算模拟软件包,该软件包能针对输入的半导体晶体结构,基于材料基因组数据库和第一性原理软件包,自动计算并输出半导体的热力学稳定性,缺陷和杂质形成能及离化能级,半导体样品中缺陷、杂质和载流子浓度及费米能级,关键缺陷和杂质诱导的光致发光谱、载流子辐射和非辐射俘获截面及少子寿命。
针对任一半导体,dasp软件可以计算给出如下性质:热力学稳定性、元素化学势空间的稳定范围、缺陷(含杂质,下同)形成能、缺陷转变能级、各生长条件下的费米能级、载流子和缺陷浓度、缺陷的光致发光谱、缺陷对载流子的俘获截面、辐射和非辐射复合速率等。
本期将给大家介绍dasp hfo2的本征缺陷计算 5.3-5.3.1.1 的内容。
5.3. h掺杂ga2o3的缺陷计算
ga2o3是一种透明导电氧化物,表现出天然的n型导电性和高光学透明度,在平板显示器、触摸控制面板和显示器、太阳能电池的顶表面电极和固态光发射器等技术中具有应用价值。
ga2o3薄膜和晶体在无外掺杂的情况下就表现出n型导电性,其来源存在争议,本征点缺陷和外来杂质都是可能的诱因。
借助dasp软件,可以对各种潜在的点缺陷和杂质性质进行系统研究,探讨ga2o3的点缺陷形成和掺杂机制,揭示其与导电性之间的关联。
5.3.1. 准备计算prepare
5.3.1.1. 准备poscar与dasp.in
从 materials project 数据库中找到ga2o3的 poscar 文件,显示如下:
将其拖入晶体可视化软件,如图所示
ga2o3的晶体结构
使用vasp优化其晶格常数,或修改其晶格常数从而匹配实验值。此步骤需用户手动完成。
在dasp.in中写入必要参数
接下来将对 dasp.in 中所有列出的参数进行说明。
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