三极管和MOS管的工作原理

在前面我们讲了,半导体器件主要可以分为二极管类和三极管类。 本文主要讲解三极管类器件的原理,以及它们在工程学上的基本应用。 毫无疑问,二极管和三极管类器件的出现,拉开了逻辑电路的序幕。 那么,三极管类器件和逻辑电路由有什么关系呢? 在探讨这个话题之前,我们有必要先学习下三极管类器件的基本原理的学习。
三极管和mos管的工作原理
前面的知识,我们可以简单总结为2部分:
1.电子存在于万物之中,自然状态下,物体是否导电,取决于它内部自由电子的多少。 自由电子多,导电性能良好的物体称为导体。 自由电子少,导电性能差的物体,称为绝缘体。 导电性能既可以好,又可以不好的物体,称为半导体。 注意:导体和绝缘体的定义永远都是相对的。 物体a通流1ma,物体b通流1ua。 我们可以定义物体a为导体,物体b为绝缘体。 同样地,物体a通流1ma,物体b可通流1a。 则物体b为导体,物体a为绝缘体。
2.半导体器件是否导电,取决于其内部载流子的多少,而半导体器件内部载流子有2类,分别为电子(自由电子)和空穴(离子)。 自由电子的运动方向与电场方向相反,空穴的运动方向与电场方向相同。 电子数量远多于空穴数量的半导体,因电子带负电,称为n型半导体(negative)。 空穴数量远多于电子数量的半导体,因空穴带正电,称为p型半导体(positive)。
npn三极管的工作原理
对于npn管,它是由2块n型半导体中间夹着一块p型半导体所组成(掺杂工艺一体成型,并非拼接),发射区与基区之间形成的pn结称为发射结,而集电区与基区形成的pn结称为集电结,三条引线分别称为发射极e (emitter)、基极b (base)和集电极c (collector)。 如下图所示:
在制作时,c区掺杂低浓度自由电子,b区掺杂中量的空穴,而且要做的很薄,e区掺杂高浓度的自由电子。 三极管导通的条件是b相对e极加正电压(发射结正偏)。 c极相对b极加正电压(集电结反偏)。 如下图所示:
a.接通电源后,由于发射结正偏,发射区的多数载流子(电子)通过外部偏置电源e1和导线流入基区,而基区的多数载流子(空穴)通过外部电源和导线流入发射区。
b.由于发射区电子的的浓度远大于基区空穴的浓度,所以在基区和发射区,空穴和电子复合(带负电的电子和带正电的离子结合成不带电的分子,称为复合)后,还剩余很多自由电子,在基区集结了大量自由电子后,由于集电结反偏,只要基区内有靠近集电结的自由电子,都会被反向集电结的强电场作用,扫入到集区。
我们发现大量的发射区的电子经过外部电源e1和导线流入基区,由于发射结正向导通,形成电流回路,这股电子流称为发射极电流ie(emitter current)。
这些电子中的一少部分与基区的空穴复合消失,同时又不断产生,所以,等效复合掉又产生的电子,形成的电流回路,称为基极电流ib。
即使复合掉一部分,还剩余的大部分电子在基区,这些电子经过集电结的反偏电压,被集电结的电场力扫入到集区内,到达集电区,由于集电区本身自由电子浓度高,可以形成扩散电流,再经过e2和导线,形成电流回路。 这个电流称为集极电流ic。
从电子的形成过程,我们可以看出:
ie=ic+ib,且ic远大于ib。
此处一定要关注电流的定义:电流由电子移动时产生,且必须有回路。 正偏的发射结电压,使得大量的电子从发射区到达基区,但是只有少数电子从基区到达了发射区(经过扩散和重新产生)。 所以我们发现,到达基区的电子很多,但是发射结电流却很小。 剩余的大部分电子只有在集电结增加足够的反偏电压后,才能形成回路,重新到达发射区。
所以以上过程又可以等效描述为:产生很小的ib,伴随产生着很多的自由电子,这些电子只有在集电结增加反偏电压后,才能形成回路,产生真正的大电流ic。 所以我们称晶体管器件为电流控制型放大器件。
为了表征这一放大特征,我们定义两个直流放大倍数:β=ic/ib,α=ic/ie。 这两个值决定了晶体管的电流放大能力。
如上即为npn三极晶体管的工作原理。 pnp型三极管原理类似。
n型mos管的工作原理
nmos全称为n型金属-氧化物-半导体。 其结构如下:在一块掺杂浓度较低的p型硅衬底(提供大量可以动空穴)上,制作两个高掺杂浓度的n+区(n+区域中有大量为电流流动提供自由电子的电子源),并用金属铝引出两个电极,分别作漏极d和源极s。 然后在半导体表面覆盖一层很薄的二氧化硅(sio2)绝缘层,在漏——源极间的绝缘层上再装上一个铝电极(通常是多晶硅),作为栅极g。 在衬底上也引出一个电极b,这就构成了一个n沟道增强型mos管。 mos管的源极和衬底通常是接在一起的(大多数管子在出厂前已连接好,也可以不连接,作为模拟开关使用)。
通过以上结构,我们发现,
nmos管在默认状态下,由于漏极和源极(n型)之间隔着p型半导体,会形成由p指向n的2圈pn结,阻止自由电子的流动,我们称为nmos管是截止状态。
在栅极相对s极(或者b极)增加正向电压后,此时n型半导体的源极和漏极的电子,由于电场作用,想流向栅极,但由于氧化膜的阻挡,使得电子聚集在两个n沟道之间的p型半导体中(见图b),使得p型半导体中产生了一部分n沟道,使源极和漏极之间导通了。 我们也可以想像为两个n型半导体之间为一条沟,栅极电压的建立相当于为它们之间搭了一座桥梁,该桥的大小由栅压的大小决定。
所以以上过程又可以描述为:在g极相对s极(或b极)增加电压后,会使得原本隔离开的两个n型半导体之间形成一段n型沟道,大量的自由电子聚集在n型半导体区域后,通过在d极和s极增加电压,就可以使得原本不导通的mos管导通。 所以我们称mos管器件为电压控制型放大器件。
我们定义mos管沟道刚刚形成时的gs极(或者gb)电压为开启电压vgsth。 vgs越大,沟道越厚,d极与s极导电能力越强。
为了表征放大特征,常使用gs与电流的关系式表达mos管的放大能力。
其中,vgsth为mos管的开启电压,idss为​vgs=2vgsth时,ids电流值。
如上即为nmos管的工作原理。

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