MOS管

mos管
发表与 2006-2-6 9:12:17
线性电子电路教案
第三章 场效应管
知识要点:
场效应管原理、场效应管的小信号模型及其参数
场效应管是只有一种载流子参与导电的半导体器件,是一种用输入电压控制输出电流的半导体器件。有n沟道器件和p沟道器件。有结型场效应三极管jfet(junction field effect transister)和绝缘栅型场效应三极管igfet( insulated gate field effect transister) 之分。igfet也称金属-氧化物-半导体三极管mosfet (metal oxide semiconductor fet)。 1.1
1.1.1
mos场效应管
mos场效应管有增强型(enhancement mos 或emos)和耗尽型(depletion)mos或dmos)两大类,每一类有n沟道和p沟道两种导电类型。场效应管有三个电极:
d(drain) 称为漏极,相当双极型三极管的集电极;
g(gate) 称为栅极,相当于双极型三极管的基极;
s(source) 称为源极,相当于双极型三极管的发射极。
增强型mos(emos)场效应管
根据图3-1,n沟道增强型mosfet基本上是一种左右对称的拓扑结构,它是在p型半导体上生成一层sio2 薄膜绝缘层,然后用光刻工艺扩散两个高掺杂的n型区,从n型区引出电极,一个是漏极d,一个是源极s。在源极和漏极之间的绝缘层上镀一层金属铝作为栅极g。p型半导体称为衬底,用符号b表示。
图3-1 n 沟道增强型emos管结构示意
一、工作原理
1.沟道形成原理
当vgs=0 v时,漏源之间相当两个背靠背的二极管,在d、s之间加上电压不会在d、s间形成电流。
当栅极加有电压时,若0<vgs<vgs(th)时,通过栅极和衬底间的电容作用,将靠近栅极下方的p型半导体中的空穴向下方排斥,出现了一薄层负离子的耗尽层。耗尽层中的少子将向表层运动,但数量有限,不足以形成沟道,所以仍然不足以形成漏极电流id。
进一步增加vgs,当vgs>vgs(th)时( vgs(th) 称为开启电压),由于此时的栅极电压已经比较强,在靠近栅极下方的p型半导体表层中聚集较多的电子,可以形成沟道,将漏极和源极沟通。如果此时加有漏源电压,就可以形成漏极电流id。在栅极下方形成的导电沟
1
线性电子电路教案
道中的电子,因与p型半导体的载流子空穴极性相反,故称为反型层(inversion layer)。随着vgs的继续增加,id将不断增加。在vgs=0v时id=0,只有当vgs>vgs(th)后才会出现漏极电流,这种mos管称为增强型mos管。
转移特性曲线的斜率gm的大小反映了栅源电压对漏极电流的控制作用。 gm 的量纲为ma/v,所以gm也称为跨导。
跨导的定义式如下: constds==vgsdvigmδδ (单位ms)
2. vds对沟道导电能力的控制
当vgs>vgs(th),且固定为某一值时,来分析漏源电压vds对漏极电流id的影响。vds的不同变化对沟道的影响如图3-2所示。根据此图可以有如下关系
vds=vdg+vgs= —vgd+vgs
vgd=vgs—vds
当vds为0或较小时,相当vgd>vgs(th),沟道呈斜线分布。在紧靠漏极处,沟道达到开启的程度以上,漏源之间有电流通过。
当vds增加到使vgd=vgs(th)时,相当于vds增加使漏极处沟道缩减到刚刚开启的情况,称为预夹断,此时的漏极电流id基本饱和。当vds增加到vgdvgs(th)、vdsvgs(th)、vds>vgs-vgs(th) 限定。漏极电流表达式: 2)th(gsgsoxnd)vv(l2wci−=μ
在这个工作区内,id受vgs控制。考虑厄尔利效应的id表达式: )v1()vv(l2wc)vv1()vv(l2wcids2)th(gsgsoxnads2)th(gsgsoxndλμμ+−=−−=
3.截止区和亚阈区
vgsvgs(th)
vdsvgs(off)、vdsvgs(off)、vds>vgs-vgs(off) 限定 2)off(gsgsdssd)vv1(ii−=
3. 截止区
vgs4. 击穿区
当vds增大到一定值v(br)ds时,漏极端pn结发生雪崩击穿而使id急剧增加区域。9

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