车规级AEC-Q100、AEC-101、AEC-200标准解读
aec-q100标准q100是最早的一个标准，初版是1994 年 6 月提交给了所有的 ic 供应商，现在的rev h版本是2014.09.11发布的，至今没有再更新了。我们先来看一下标准的全称: failure mechanism based stress test qualification for integrated circuits，基于集成电路应力测试认证的失效机理，名字有点长，所以一般就叫“集成电路的应力测试标准”。集成电路应该算是用得最多的，大家也最关注的，所以我们就把q100讲得详细一点。q100除主标准(base document)外，还有12个分标准，从001到012，分别如下：
aec-q100 rev-h: failure mechanism based stress test qualification for integrated circuits(base document)，主标准。aec-q100-001 rev-c: wire bond shear test，邦线切应力测试。aec-q100-002 rev-e: human body model (hbm) electrostatic discharge test人体模式静电放电测试。aec-q100-003 rev-e: machine model (mm) electrostatic discharge test，[decommissioned] 机械模式静电放电测试，已废止，因为jedec里面也给淘汰了。aec-q100-004 rev-d: ic latch-up test集成电路闩锁效应测试。aec-q100-005 rev-d1: non-volatile memory program/erase endurance, data retention, and operational life test 非易失性存储程序/擦除耐久性、数据保持及工作寿命的测试。aec-q100-006 rev-d: electro-thermally induced parasitic gate leakage test (gl) [decommissioned] 热电效应引起的寄生门极漏电流测试，已废止，因为认证测试不需要了（lack of need）。aec-q100-007 rev-b: fault simulation and test grading，故障仿真和测试等级。aec-q100-008 rev-a: early life failure rate (elfr) 早期寿命失效率。aec-q100-009 rev-b: electrical distribution assessment电分配的评估。aec-q100-010 rev-a: solder ball shear test锡球剪切测试。aec-q100-011 rev-d: charged device model (cdm) electrostatic discharge test带电器件模式的静电放电测试。aec - q100-012 - rev-: short circuit reliability characterization of smart power devices for 12v systems 12v 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述。13个文档中，2个已经是废止状态，012适用于我们之前电气架构里面讲过的hsd和lsd等智能芯片。
举个例子，从下面这个英飞凌的hsd芯片手册里面我们就能看到，esd测试依据了aec-q100-002和011，短路测试用到了012。
温度范围做过汽车电子设计的小伙伴们应该都了解，温度在汽车电子设计中非常关键，所以选芯片时，温度范围这个参数就非常关键。
aec-q100从rev g升级到h版后，删掉了grade 4，也就是不能用于车载应用的0度～+70度温度范围。
器件认证测试aec-q100的测试项目非常多，一共分成了7个测试组群，我们大概了解一下就可以了。
测试群组a：环境压力加速测试，如室温、高温，湿度，温湿度循环等；测试群组b：使用寿命模拟测试，室温、高低温寿命测试；测试群组c：封装组装整合测试 ，主要是邦线相关的测试；测试群组d：芯片晶圆可靠度测试，如电迁移，热载流子等；测试群组e：电气特性确认测试；如esd，emc，短路闩锁等；测试群组f：瑕疵筛选监控测试，过程平均测试及良率分析；测试群组g：封装凹陷整合测试，包括机械冲击、震动、跌落等测试。我把标准里面的整个测试流程贴出来了，大家可以感受一下这个复杂度，体会一下这个认证的难度。整个认证的测试项目涵盖了温度、湿度、机械冲击、振动、emc，esd，电迁移、应力迁移、热载流子注入、闩锁效应、芯片剪切等方面的试验，涉及的芯片阶段从设计（变更、晶圆尺寸）、晶圆制造（光刻、离子注入、制造场所转移），到封装（引线材质、芯片清洁、塑封、制造场所转移）等。
再看下具体的要求，比如grade 0温度循环是在-55度～+150度进行2000个循环，所有等级（grade0～3）的高温工作要求都是1000个小时，也就是42天，大家感受一下，光温度箱的电费都不少钱。总结一下aec-q100测试：
测试分成了7个测试组群；循环类多数都是1000个循环；耐久类多数都是1000小时；共计45种各类试验项目；
aec-q101标准
q101标准是用于分立半导体器件的，标准全称：failure mechanism based stress test qualification for discrete semiconductors，基于分立半导体应力测试认证的失效机理，名字有点长，所以一般就叫“分立半导体的应力测试标准”。现在的rev e版本是2021.03.01刚发布的最新版。 q101除主标准外，还有6个标准，从001到006，分别如下：aec-q101-001 rev-a: hbm esd，人体模型静电测试。aec-q101-002 rev-a: mm esd，机械模式静电测试，和q100一样，已废止。aec-q101-003 rev-a: 邦线切应力测试。aec-q101-004 rev-:多种测试。aec-q101-005 rev-: 带电器件模式的静电测试。aec-q101-006 rev-: 12v系统灵敏功率设备的短路可靠性描述。6个文档中，1个已经是废止状态，006适用于我们之前电气架构里面讲过的一些不在q100范围内的hsd或lsd智能器件。
标准范围
集成电路大家听得比较多，也容易理解，但是分立半导体器件估计非业内人士都是第一次听到，我就大概解释下哪些算是分立半导体器件。先放张标准原图，大家感受一下：
aec-q101按wafer fab晶圆制造技术，分为以下几种，主要是mos、igbt、二极管、三极管、稳压管、tvs、可控硅等。
温度范围
关于温度范围这块儿，比起q100针对芯片区分了4档温度范围、最高才150度，q101标准简单粗暴，规定最低温度范围就是-40度～+125度，你可以高，但不能低。
aec-q200标准
q200标准是用于被动器件的，标准全称：stress test qualification for passive components，被动器件应力测试认证，这个名字比q100和101短多了。现在的rev d版本是2010年的，距今已经十几年了。 q200除主标准外，还有7个标准，从001到007，分别如下：
aec-q200-001 rev-b: 阻燃性能测试aec-q200-002 rev-b: hbm esd，人体模型静电测试aec-q200-003 rev-b: 断裂强度测试aec-q200-004 rev-a: 可恢复保险丝测试。aec-q200-005 rev-a: 板弯曲/端子邦线应力测试。aec-q200-006 rev-a: 端子应力（smd贴片元件）/切应力测试。aec-q200-007 rev-a: 浪涌电压测试。4.3.1 标准范围
非业内人士，估计第一次听到被动器件这个词，我就大概解释下，哪些算是被动器件。先放张标准原图，大家感受一下：
aec-q200涵盖的范围包括：电阻、电容、电感、变压器、压敏电阻、热敏电阻、聚合物可恢复保险丝、晶体等，这些基本上大家都很熟悉。
温度范围
关于温度范围这块儿，因为q200中包含了电容等对温度很敏感的器件，区分了5档温度范围，最高到150度。你过了哪一档，可以向下覆盖，比如你过了grade 1，你可以声称满足grade 2，但是不能向上。
不同温度等级的电容，材质和工艺都是不同的，价格当然也不一样，应用也不一样，所以按温度进行分级是必要的。这个从标准里也能看出来，grade 0是哪儿都能用，grade 1可以用于发动机舱多数应用，grade2和3用于乘客舱，而4级就不能用于车载应用了。
贞光科技深耕汽车电子、工业及轨道交通领域十余年，为客户提供车规电容、车规电阻、车规晶振、车规电感、车规连接器等车规级产品和汽车电子行业解决方案，成立于2008年的贞光科技是三星、国巨、爱普生、avx、奇力新、风华高科、京瓷、泰科等国内外40余家原厂的授权代理商。
免责声明：本文源自网络，文中观点不代表贞光科技立场，如有侵权请联系删除。
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aec-q100 rev-h: failure mechanism based stress test qualification for integrated circuits(base document)，主标准。aec-q100-001 rev-c: wire bond shear test，邦线切应力测试。aec-q100-002 rev-e: human body model (hbm) electrostatic discharge test人体模式静电放电测试。aec-q100-003 rev-e: machine model (mm) electrostatic discharge test，[decommissioned] 机械模式静电放电测试，已废止，因为jedec里面也给淘汰了。aec-q100-004 rev-d: ic latch-up test集成电路闩锁效应测试。aec-q100-005 rev-d1: non-volatile memory program/erase endurance, data retention, and operational life test 非易失性存储程序/擦除耐久性、数据保持及工作寿命的测试。aec-q100-006 rev-d: electro-thermally induced parasitic gate leakage test (gl) [decommissioned] 热电效应引起的寄生门极漏电流测试，已废止，因为认证测试不需要了（lack of need）。aec-q100-007 rev-b: fault simulation and test grading，故障仿真和测试等级。aec-q100-008 rev-a: early life failure rate (elfr) 早期寿命失效率。aec-q100-009 rev-b: electrical distribution assessment电分配的评估。aec-q100-010 rev-a: solder ball shear test锡球剪切测试。aec-q100-011 rev-d: charged device model (cdm) electrostatic discharge test带电器件模式的静电放电测试。aec - q100-012 - rev-: short circuit reliability characterization of smart power devices for 12v systems 12v 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述。13个文档中，2个已经是废止状态，012适用于我们之前电气架构里面讲过的hsd和lsd等智能芯片。
举个例子，从下面这个英飞凌的hsd芯片手册里面我们就能看到，esd测试依据了aec-q100-002和011，短路测试用到了012。
温度范围做过汽车电子设计的小伙伴们应该都了解，温度在汽车电子设计中非常关键，所以选芯片时，温度范围这个参数就非常关键。
aec-q100从rev g升级到h版后，删掉了grade 4，也就是不能用于车载应用的0度～+70度温度范围。
器件认证测试aec-q100的测试项目非常多，一共分成了7个测试组群，我们大概了解一下就可以了。
测试群组a：环境压力加速测试，如室温、高温，湿度，温湿度循环等；测试群组b：使用寿命模拟测试，室温、高低温寿命测试；测试群组c：封装组装整合测试 ，主要是邦线相关的测试；测试群组d：芯片晶圆可靠度测试，如电迁移，热载流子等；测试群组e：电气特性确认测试；如esd，emc，短路闩锁等；测试群组f：瑕疵筛选监控测试，过程平均测试及良率分析；测试群组g：封装凹陷整合测试，包括机械冲击、震动、跌落等测试。我把标准里面的整个测试流程贴出来了，大家可以感受一下这个复杂度，体会一下这个认证的难度。整个认证的测试项目涵盖了温度、湿度、机械冲击、振动、emc，esd，电迁移、应力迁移、热载流子注入、闩锁效应、芯片剪切等方面的试验，涉及的芯片阶段从设计（变更、晶圆尺寸）、晶圆制造（光刻、离子注入、制造场所转移），到封装（引线材质、芯片清洁、塑封、制造场所转移）等。
再看下具体的要求，比如grade 0温度循环是在-55度～+150度进行2000个循环，所有等级（grade0～3）的高温工作要求都是1000个小时，也就是42天，大家感受一下，光温度箱的电费都不少钱。总结一下aec-q100测试：
测试分成了7个测试组群；循环类多数都是1000个循环；耐久类多数都是1000小时；共计45种各类试验项目；
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标准范围
集成电路大家听得比较多，也容易理解，但是分立半导体器件估计非业内人士都是第一次听到，我就大概解释下哪些算是分立半导体器件。先放张标准原图，大家感受一下：
aec-q101按wafer fab晶圆制造技术，分为以下几种，主要是mos、igbt、二极管、三极管、稳压管、tvs、可控硅等。
温度范围
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aec-q200标准
q200标准是用于被动器件的，标准全称：stress test qualification for passive components，被动器件应力测试认证，这个名字比q100和101短多了。现在的rev d版本是2010年的，距今已经十几年了。 q200除主标准外，还有7个标准，从001到007，分别如下：
aec-q200-001 rev-b: 阻燃性能测试aec-q200-002 rev-b: hbm esd，人体模型静电测试aec-q200-003 rev-b: 断裂强度测试aec-q200-004 rev-a: 可恢复保险丝测试。aec-q200-005 rev-a: 板弯曲/端子邦线应力测试。aec-q200-006 rev-a: 端子应力（smd贴片元件）/切应力测试。aec-q200-007 rev-a: 浪涌电压测试。4.3.1 标准范围
非业内人士，估计第一次听到被动器件这个词，我就大概解释下，哪些算是被动器件。先放张标准原图，大家感受一下：
aec-q200涵盖的范围包括：电阻、电容、电感、变压器、压敏电阻、热敏电阻、聚合物可恢复保险丝、晶体等，这些基本上大家都很熟悉。
温度范围
关于温度范围这块儿，因为q200中包含了电容等对温度很敏感的器件，区分了5档温度范围，最高到150度。你过了哪一档，可以向下覆盖，比如你过了grade 1，你可以声称满足grade 2，但是不能向上。
不同温度等级的电容，材质和工艺都是不同的，价格当然也不一样，应用也不一样，所以按温度进行分级是必要的。这个从标准里也能看出来，grade 0是哪儿都能用，grade 1可以用于发动机舱多数应用，grade2和3用于乘客舱，而4级就不能用于车载应用了。
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