PE薄膜瑕疵检测设备的原理及技术参数
在薄膜的生产过程中，由于生产工艺及现场环境等影响，容易造成薄膜表面出现黑点、晶点、划伤、破洞、线条、褶皱、蚊虫等缺陷。这些缺陷不仅影响薄膜产品的外观，更重要的是降低了薄膜的使用性能。如何在生产过程中及时检出薄膜表面的瑕疵缺陷，消除生产的根源，实现控制和提高薄膜的表面质量，一直是薄膜企业追求的目标。基于ccd的精谱测控pe薄膜瑕疵检测设备与传统的人工肉眼检测相比，具有快速、可靠、准确的优点，实时在线检测，自动报警并显示当前瑕疵的具体信息，以便及时进行处理。
精谱测控pe薄膜瑕疵检测设备原理：
视觉系统的输出并非图像视频信号，而是经过运算处理之后的检测结果（如缺陷、尺寸等数据）。通常，机器视觉检测就是用机器代替肉眼来做测量和判断。首先采用ccd照相机将被摄取目标转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号。
图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，如：面积、长度、数量、位置等。最后，根据预设的容许度和其他条件输出结果，如：缺陷、尺寸、角度、偏移量、个数、合格/不合格、有/无等。上位机（如pc和plc）实时获得检测结果后，指挥运动系统或i/o系统执行相应的控制动作（如定位和分类）。
精谱测控pe薄膜瑕疵检测设备技术参数：
检测对象：保护膜、涂布膜、pe膜、食品包装膜、太阳能薄膜、光学膜等等
典型瑕疵：晶点、黑点、蚊虫、污点、线条、破洞等
检测速度：max：800m/min
检测幅宽：任意（根据生产线定制）
检测精度：0.1mm~1mm（取决于相机数量、产线幅宽及车速）
瑕疵标识：自动声光报警、截取当前瑕疵图片及实时x/y坐标瑕疵分布图显示
历史记录：根据批次号自动记录每一卷薄膜瑕疵的图片、大小、分布位置等信息
精谱测控pe薄膜瑕疵检测设备功能：
精确的瑕疵坐标（x，y坐标）定位及显示；
自动声光报警，并显示当前及前后10个瑕疵图像；
实时瑕疵标定，记录瑕疵直径、坐标、类型等信息；
实时监测米数，报警信息显示；
产品基本信息模块，记录产品批次、型号、规格、班号、操作员等信息；
根据瑕疵形状、面积大小、灰度差异等特征实现瑕疵自动分类；
自动生成每一卷产品的产品瑕疵记录，用户可根据批次号直接查询；
自动换卷，自动打印每一卷产品信息的质量报表；
检测历史记录的自动统计、保存、查询、调用及打印等功能。
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检测速度：max：800m/min
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